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四探针电阻率测试仪HPS2561 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立...
HPS2526精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻（每平方厘米电阻量值）的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征，由于方阻与镀层厚度成反比，也就可以由方阻计算出镀层厚度。 HP...
镀膜电阻测试仪HPS2523 是海尔帕科技结合行业需求，专门推出的一款针对薄膜金属化检测的测试仪。薄膜金属化是生产金属化有机薄膜电容器的关键工序。金属层的厚度是薄膜金属化盾量的重要参数之一。